LED作为“第四代新光源”，具有理论寿命长、发光效率高、能耗低等特点，已逐渐进入普 通照明领域，市场份额逐年增加。LED的理想预期寿命超过5万小时，但目前实际寿命与之相 去甚远，严重影响了LED的大规模应用，而LED的可靠性测试及寿命预测是解决这一问题的关 键。进行可靠性测试及寿命测试可以帮助LED生产厂家及时发现LED产品的设计缺陷以及影响 其实际寿命的原因，从而对LED产品进行优化，延长其实际使用寿命。

寿命试验是在实验室模拟各种使用条件来进行的,为了缩短试验时间在不改变失效机理的条 件下,用加大应力的方法来进行试验,这就是加速寿命试验。LED发光亮度随着长时间工作而 出现光强或光亮度衰减现象。器件老化程度与外加恒流源大小有关。实际测定LED寿命的时 间要花很长时间，故有必要进行加速老化测试方法。

通常计算LED 的寿命采取有三种方法:
1. 普通条件实验外推法
2. 温度加速寿命实验法
3. 电流加速寿命实验法